第一科学の新ラインアップ Humiシリーズ

調湿ガス供給装置 Humi Cruise

Humi Cruise

燃料電池・新素材開発・バイオ研究・高分子研究など、精度を要求される研究開発用途や、半導体・部品・薬品製造工程の静電気対策などの、湿度の影響が考えられるさまざまなアプリケーションで活躍します。
分析装置や試験装置へガス媒体を通じ水分を供給する目的で、「誰もが快適に簡単に」をキーワードに開発されたのが「Humi Cruise」です。

高温高湿試験装置 Humi Grow

Humi Grow

Humi Growは従来の恒温恒湿槽では実現できなかった100℃以上の槽内でも加湿出来るシステムです。
恒温槽内の複数のチャンバーにそれぞれ任意の湿度条件を設定することも可能です。これにより長期の信頼性試験や暴露試験などが可能 になります。また、ハーメチックシールを使うことにより電気的特性試験も可能になります。(オプション)

精密湿度供給装置 Humi Tower (タッチパネルプログラムタイプ)

Humi Tower

本装置は、分流法(JIS‐Z8806 9‐2‐3(2)分流法)の原理を応用した、精密湿度発生装置です。操作は、タッチパネルにてダイレクトに温度・湿度を直接入力でき、12ステップ99回までのプログラム運転が可能です。また、自動給水装置を内蔵しており、精密な調湿空気を長時間連続的に供給する事が可能です。

氷点下環境試験器 Humi Ice

Humi Ice

本装置は今まで難しかった氷点下の環境を実現する恒温恒湿槽です。
0~-40℃の雰囲気で10%rh~90%の制御が可能。
プログラム運転も可能な高精度恒温恒湿槽です。

ポータブル湿度校正器 Humi Pump

Humi Pump

Humi Pumpは一つのハンドル操作で自由に湿度を発生します。
発生精度の追求はもちろん、電源を必要としないなど、機動性も重視した設計を行っております。
校正に必要な経験や熟練をなくし、校正場所も選ばず『世界中どこでも湿度校正を可能にする』これがポータブル湿度校正器Humi Pumpの開発コンセプトです。

高精度恒温恒湿槽

高精度恒温恒湿槽 DHHG-005-AP

DHHG-005-AP

従来方法と違う原理を用いることにより究極の安定空間を提供することに成功しました。
温度は精密外部恒温水槽を熱媒に利用し、極限の温度安定性を追求したこと。さらに湿度では湿度計-性能試験方法(JIS B 7920)にて確立している分流式湿度発生法を用いていること。

高精度恒温恒湿槽 DKRH-DP85

DKRH-DP85

本装置は広範囲の温度域において高精度を実現する恒温恒湿槽です。
-20~85℃の雰囲気で10%rh~90%の制御が可能。
さらにプログラム運転も可能な高精度恒温恒湿槽です。
オプションでは湿度センサの応答試験が出来る過度特性試験ユニットも対応できます。

高温恒湿試験槽

高温高湿試験装置 Humi Grow

Humi Grow

Humi Growは従来の恒温恒湿槽では実現できなかった100℃以上の槽内でも加湿出来るシステムです。
恒温槽内の複数のチャンバーにそれぞれ任意の湿度条件を設定することも可能です。これにより長期の信頼性試験や暴露試験などが可能 になります。また、ハーメチックシールを使うことにより電気的特性試験も可能になります。(オプション)

氷点下環境試験槽

氷点下環境試験器 Humi Ice

Humi Ice

本装置は今まで難しかった氷点下の環境を実現する恒温恒湿槽です。
0~-40℃の雰囲気で10%rh~90%の制御が可能。
プログラム運転も可能な高精度恒温恒湿槽です。

精密湿度発生装置

調湿ガス供給装置 Humi Cruise

Humi Cruise

燃料電池・新素材開発・バイオ研究・高分子研究など、精度を要求される研究開発用途や、半導体・部品・薬品製造工程の静電気対策などの、湿度の影響が考えられるさまざまなアプリケーションで活躍します。
分析装置や試験装置へガス媒体を通じ水分を供給する目的で、
「誰もが快適に簡単に」をキーワードに開発されたのが「Humi Cruise」です。

精密湿度供給装置 Humi Trad R/M

精密湿度供給装置 Humi Trad R/M用 外部チャンバー

分流法(JIS‐Z8806 9‐2‐3(2)分流法)の原理を応用し、分流比表より求めた比率に手動バルブにて流量を調整して湿度を設定するタイプです。また、自動給水機能付きでMAX+40℃迄の低価格タイプの精密湿度発生装置です。操作は簡単ですが、精密な調湿空気を長時間連続的に供給する事が可能です。

精密湿度供給装置 Humi Tower (タッチパネルプログラムタイプ)

Humi Tower

本装置は、分流法(JIS‐Z8806 9‐2‐3(2)分流法)の原理を応用した、精密湿度発生装置です。操作は、タッチパネルにてダイレクトに温度・湿度を直接入力でき、12ステップ99回までのプログラム運転が可能です。また、自動給水装置を内蔵しており、精密な調湿空気を長時間連続的に供給する事が可能です。

低露点発生装置 LDG-111

LDG-111

本装置は氷の飽和槽により低露点の飽和空気を発生する事が出来ます。
連続運転で長期にわたる安定した発生が可能です。
また、分流法(JIS‐Z8806 9‐2‐3(2)分流法)の原理を応用する 事により、さらに低い露点空気を発生する拡張性の可能性があります。

温度試験器

精密温度校正器

精密温度校正器

本装置はガラス温度計・シース型温度センサを校正するための装置です。
液槽は2槽構造でそれぞれ -50 ~ 50℃、-80 ~ -50℃の温度域で校正が可能です。
本装置は完全自動化が出来、プログラム運転による自動校正が可能な設計になっています。

その他・特殊試験機

恒温恒湿赤外分光セル

恒温恒湿赤外分光セル

本装置は赤外分光光度計の光学セル内で温湿度制御が行えます。
光学セルを小型チャンバーで挟み込むことで恒温し、下部より調湿空気を流します。光学セルはご要望により材質、サイズなどをご指定頂けます。

通電IC 熱衝撃試験機

通電IC 熱衝撃試験機

本装置は通電された半導体に熱衝撃試験を行うための装置です。
半導体は水分コントロールされたチャンバー内に設置し、プローバーを通じ通電されます。半導体直下の熱交換器により熱衝撃が与えられます。
上部にはガラス窓があり、レーザー振動計などの使用も可能です。

通電IC 85℃85%RH環境試験機

通電IC 85℃85%RH環境試験機

本装置は通電された半導体に 85℃ 85% rh の環境試験を行うための装置です。
半導体は温度と湿度がコントロールされたチャンバー内に設置し、プローバーを通じ通電されます。結露することなく長期にわたる加速度試験が出来ます。

その他の環境試験機は WebCatalog にも掲載しております。併せてご参照下さい。